图谱光电 ToupTek DIC5XA 显微系统
DIC （Differential Interference Contrast）显微系统利用双光束偏振干涉的原理，其过程如下：
1、从起偏器射出的线偏振光通过一个有双折射性质的诺马斯基棱镜后，分解成两束互相垂直振动的有一定相位差的偏振光；
2、两束非相干光束照射到样品后，视场中样品表面的微小凹凸或折射率不同使两束光产生光程差，两束光经样品反射后再次经过诺马斯基棱镜重新汇合；
3、汇合的光通过检偏器使它们的振动方向一致而发生干涉；
4、样品细节因光束发生干涉、振幅变化而变得明暗对比增强，同时样品细节图像呈现出三维立体的浮雕状效果。
诺马斯基棱镜可做水平移动调节，类似相位移动的补偿器的作用，使视场中物体和背景之间的亮度和干涉颜色发生变化，从而达到理想的观察效果。左图为DIC100系列微分干涉相衬显微系统。
系统参数
标准工作距物镜参数(45mm齐焦距)
长工作距物镜参数(60mm齐焦距)
外形尺寸
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物镜名称
放大倍率
数值孔径
工作距离/mm
焦距/mm
分辨率/um
物方视场/mm
像方视场/mm
螺纹尺寸
DIC5XA
5X
0.15
22
36
2.23
5
25
M20*0.705
DIC10XA
10X
0.30
15
18
1.1
2.5
25
M20*0.705
DIC20XA
20X
0.40
10
9
0.75
1.25
25
M20*0.705
DIC50XA
50X
0.80
2.5
3.6
0.41
0.5
25
M20*0.705