Dali   technology   大立科技    VLD650   平面探测器

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  技术参数

  型号	VLD650
  敏感材料	VOx
  阵列规模	640×512
  像元间距	17um
  光谱范围	8μm～14μm
  帧频	25～60Hz
  NETD(f/1,300K,50Hz)	40mK
  可操作率	≥99.5%
  功耗（不含TEC）	130mW
  外形尺寸（不含引脚等）	32mm × 23.5mm × 7.1mm
  重量	≤20g
  工作温度范围	-40℃～+85℃
  贮存温度范围	-40℃～+85℃
  封装形式	金属

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